分析高低溫試驗箱處理器芯片的防氧化處理措施

高低溫試驗箱在經過溶解度氧充氮保護后，處理器芯片焊球經過長時間高溫老化也不會被氧化，保證了芯片在高低溫試驗的高溫老化試驗過程中的品質與安全，確保了芯片焊球在電裝工藝環節中不會出現假焊或虛焊的質量問題，對芯片整體品質提高有著很大的作用。

高低溫試驗箱除了提供必要的高溫應力及防氧化處理外，該平臺zui顯著的特點是利用插座連接器將處理器老化測試板與信號驅動板進行物理連接，保證處理器老化中電應力加載和功能參數測試。這種連接方式比目前業界普遍采用的信號線或柔性板連接要好，信號線或柔性連接的耐高溫、抗干擾等性能較差，電源遠端供電困難、信號傳輸有損失，而采用插座連接則可以有效地解決這些問題。